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Institute of Electrical and Electronics Engineers · Debuggen · Hardware · Boundary Scan Test · Beschreibungssprache · Boundary Scan Description Language · integrierte Schaltung · Schieberegister · Intel 4004 · Intel 8008 · Z80 · Flipflop · Boundary Scan Test · Schieberegister · Halbleiterhersteller
Quelle: Wikipedia-Seite zu 'Joint Test Action Group' [Autoren]
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